工業型原子力顯微鏡 
FM-NanoviewLS-AFM
◆ 實現樣品保持不動，探針移動掃描的原子力顯微鏡；
◆ 采用閉環三軸獨立壓電平移式掃描器，大范圍高精度掃描；
◆ 樣品尺寸、重量基本不受限制，特別適合集成電路晶圓等超大樣品檢測；
◆ 龍門架式掃描頭設計，大理石底座，真空吸附式載物臺；
◆ 超大行程二維電動樣品移動臺，快速選擇感興趣的樣品區域；
◆ 高倍光學定位系統，實現探針

工業型原子力顯微鏡技術參數

◆ 基本工作模式：接觸、輕敲、F-Z力曲線測量、RMS-Z曲線測量、摩擦力/側向力、振幅/相位、磁力和靜電力
◆ 選配工作模式：Profile線快速測量模式
◆ 最大樣品尺寸：Φ≥300mm，H≥50mm
◆ 閉環掃描范圍：XY向100um，Z向10um
◆ 閉環掃描分辨率：XY向0.2nm，Z向0.05nm
◆ 樣品移動范圍：300mm×300mm
◆ 輔助光學定位：10X物鏡，光學分辨率1um（可選配20X，光學分辨率0.8um）
◆ 氣動式減震臺，減震頻率0.5Hz
◆ 噪音水平：＜0.1nm
◆ 掃描速率0.6Hz~4.34Hz，掃描角度0~360°
◆ 掃描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A
◆ 數據采樣：14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
◆ 反饋方式：DSP數字反饋
◆ 反饋采樣速率：64.0KHz
◆ 通信接口：USB2.0/3.0
◆ 運行環境：WindowsXP/7/8/10操作系統