一體式原子力顯微鏡適合于高校納米科技教學(xué)、科學(xué)研究、納米材料及粉體分析、電化學(xué)測量、生物制藥和工業(yè)現(xiàn)場測試。作為專業(yè)AFM制造商，海茲思具有十多年的AFM技術(shù)經(jīng)驗和積累，能夠提供及時的專業(yè)技術(shù)支持和售后服務(wù)。
一體式原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有三種操作模式：接觸模式、非接觸模式和敲擊模式。
1、接觸模式：從概念上來理解，接觸模式是AFM較直接的成像模式。正如名字所描述的那樣，AFM在整個掃描成像過程之中，探針針尖始終與樣品表面保持緊密的接觸，而相互作用力是排斥力。掃描時，懸臂施加在針尖上的力有可能破壞試樣的表面結(jié)構(gòu)，因此力的大小范圍在10-10~10-6N。若樣品表面柔嫩而不能承受這樣的力，便不宜選用接觸模式對樣品表面進行成像。
2、非接觸模式：非接觸模式探測試樣表面時懸臂在距離試樣表面上方5~10nm的距離處振蕩。這時，樣品與針尖之間的相互作用由范德華力控制，通常為10-12N，樣品不會被破壞，而且針尖也不會被污染，特別適合于研究柔嫩物體的表面。這種操作模式的不利之處在于要在室溫大氣環(huán)境下實現(xiàn)這種模式十分困難。因為樣品表面不可避免地會積聚薄薄的一層水，它會在樣品與針尖之間搭起一小小的毛細(xì)橋，將針尖與表面吸在一起，從而增加對表面的壓力。
3、敲擊模式：敲擊模式介于接觸模式和非接觸模式之間，是一個雜化的概念。懸臂在試樣表面上方以其共振頻率振蕩，針尖僅僅是周期性地短暫地接觸/敲擊樣品表面。這就意味著針尖接觸樣品時所產(chǎn)生的側(cè)向力被明顯地減小了。一旦AFM開始對樣品進行成像掃描，裝置隨即將有關(guān)數(shù)據(jù)輸入系統(tǒng)，如表面粗糙度、平均高度、峰谷峰頂之間的大距離等，用于物體表面分析。同時，AFM還可以完成力的測量工作，測量懸臂的彎曲程度來確定針尖與樣品之間的作用力大小。
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